EM301 Heating Microscope
É um sistema de análise ótica por imagem, permitindo a medição do comportamento térmico da amostra sem contacto físico direto. Este equipamento
É um sistema de análise ótica por imagem, permitindo a medição do comportamento térmico da amostra sem contacto físico direto. Este equipamento
Principais benefícios Precisão de nível laboratorial num formato de bancada Baixa manutenção com estabilidade a longo prazo Resultados rápidos e precisos para
Orientado para aplicações industriais O ZSX Primus III NEXT é uma ferramenta ideal para qualquer aplicação industrial que requeira análise elementar, tais
Visão geral do MiniFlex XpC Novo mecanismo de carregamento de amostras O mecanismo de carregamento ideal para o controlo de qualidade permite
Tecnologia Graças ao seu design avançado por pulverização catódica, já não é necessária uma bomba turbomolecular – tradicionalmente uma parte complicada e
Análise de partículas por Microscopia Eletrónica de Varrimento O microscópio eletrónico de varrimento de bancada Phenom ParticleX AM possui uma câmara com
Os metalúrgicos e investigadores de fabrico de aço necessitam de dados de microscopia eletrónica de varrimento (SEM) e de espectroscopia de fluorescência
Limpeza técnica Com a crescente procura por análise de partículas menores além do âmbito da microscopia ótica nas indústrias (automotiva), o microscópio
O SEM de bancada é de fácil utilização desde a instalação inicial até à sua utilização efetiva, tendo em conta o seu
O microscópio eletrónico de varrimento (SEM) Phenom Pure é uma ferramenta ideal para a transição da microscopia ótica para eletrónica. É a