Phenom ProX G7 Desktop SEM
Microscopia eletrónica de varrimento com análise elementar integrada
O Phenom ProX G7 Desktop SEM combina microscopia eletrónica de alta resolução com tecnologia de análise elementar por EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), oferecendo uma solução rápida, intuitiva e extremamente versátil para laboratórios de investigação, controlo de qualidade e caracterização de materiais.
Concebido para preencher a lacuna entre a microscopia ótica e os microscópios eletrónicos de bancada tradicionais, o Phenom ProX G7 permite obter imagens detalhadas e informações químicas da amostra num único equipamento compacto e fácil de utilizar.
Análise morfológica e composicional numa única plataforma
O detector EDS totalmente integrado permite identificar e quantificar elementos químicos diretamente durante a observação da amostra, acelerando significativamente os fluxos de trabalho.
Imagens de elevada resolução
Com uma ampliação até 350.000x e resolução até 6 nm, o sistema proporciona imagens detalhadas para aplicações que exigem elevada qualidade e precisão.
Utilização simples e intuitiva
O software foi desenvolvido para utilizadores de todos os níveis de experiência, permitindo a obtenção de resultados de forma rápida, sem necessidade de formação avançada em microscopia eletrónica.
Fonte eletrónica CeB₆ de longa duração
A fonte de eletrões em CeB₆ (Hexaboreto de Cério) oferece elevada estabilidade, brilho superior e uma vida útil prolongada (3000 horas de operação efetiva), reduzindo custos de manutenção e tempos de inatividade.
Instalação sem requisitos especiais
Graças ao seu design compacto e robusto, o Phenom ProX G7 pode ser instalado praticamente em qualquer laboratório sem necessidade de infraestruturas especializadas.
Características técnicas
- Ampliação eletrónica: 160x a 350.000x
- Tensões de aceleração entre 2 kV e 20 kV
- Detector EDS integrado para identificação elementar
- Detector de eletrões retroespalhados (BSE) incluído
- Detector de eletrões secundários (SE) opcional
- Mapeamento elementar e análise por linha (opcional)
- Câmara ótica integrada para navegação rápida da amostra
- Resolução de imagem até 7680 × 4800 pixels
- Carregamento rápido da amostra em menos de 30 segundos
Resultados rápidos e fiáveis
Com o software Element Identification (EID), a análise química torna-se tão simples quanto a aquisição de imagens. A identificação automática de elementos, os relatórios integrados e as funcionalidades avançadas de mapeamento permitem obter informação completa sobre a composição da amostra em poucos minutos.
Descubra uma nova forma de realizar microscopia eletrónica e análise elementar com o Phenom ProX G7 Desktop SEM. Uma solução compacta, poderosa e acessível para expandir as capacidades do seu laboratório.
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Phenom ProX Desktop SEM for materials development
Real-time aquisition and elemental analysis for faster results
CASE STUDY Graphite Machining Services & Innovations Graphite Machining Services & Innovations (GMSI) provides products and support for the semiconductor and LED industries. Although Peter Guercio and his colleagues at GMSI are not microscopists, they use their Phenom ProX desktop scanning electron microscope (SEM) daily for advanced materials research and development. The Phenom ProX Desktop SEM, with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), also benefits quality control of processes and products. Realtime acquisition combined with elemental analysis capabilities provides data 8x faster than before and has proven to be critical for recent product improvements.
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Six Ways the Phenom Pro/ProX G6 Desktop SEM Can Accelerate Breakthrough Research
As academic labs around the globe strive to accelerate their breakthrough discoveries, they need the ability to quickly and accurately identify the microstructures of an ever-larger number of samples. They also need a versatile scanning electron microscope (SEM) that goes beyond the limits of optical microscopes that requires little training or expert oversite and allows these labs to reserve their high-end, floor-model SEM for more complicated analyses.
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Processes for automation: Quality control of phosphate coatings
An insight into the development of an automation tool using the Phenom Programming Interface
Phosphate coatings are applied to metallic objects to prevent corrosion or to improve lubricity. The performance of phosphate coatings strongly depends on the morphology of the coating crystals and on the degree of coverage. The coverage can be measured using a scanning electron microscope (SEM) equipped with a back scatterered electrons (BSE) detector, where the phosphate crystals and the uncoated surface appear in different shades of gray. As the quality control process may require the analysis of hundreds of images over large areas of the coated objects, an automation script significantly increases the efficiency and accuracy of this analysis.
