Phenom ProX Desktop SEM
SEM de bancada de alto desempenho com gama de ampliação até 150.000x e tensão de aceleração entre 5kV e 15kV. Detetor EDS completamente integrada e detetor SED opcional. Operação em alto vácuo e baixo vácuo, permitindo a análise de amostras condutoras e não condutoras sem necessidade da sua preparação.
O Microscópio Eletrónico de Varredura (SEM) Phenom ProX é baseado nos SEM de bancada de 5ª geração, com a melhoria da sua performance ao nível da criação de imagens e análise. Com o SEM de bancada Phenom ProX, as estruturas da amostra podem ser examinadas fisicamente e a sua composição determinada. Além da análise pontual, o software opcional Elemental Mapping e Line Scan permite uma análise mais aprofundada da distribuição dos elementos.
Os microscópios Phenom SEM são muito intuitivos, rápidos a fornecer resultados e desenvolvidos com os mais elevados padrões de qualidade. Tendo em conta estes princípios fundamentais foi desenvolvido o sistema de espectroscopia Phenom ProX com soluções de ponta ao nível de imagiologia e análise.
Comparado ao seu antecessor, o Phenom ProX SEM da Geração 5 tem no mínimo mais 20% de melhor resolução e a experiência de utilizador é ainda melhor de forma a analisar uma maior varidade de aplicativos, incluindo amostras muito sensíveis que podem ser danificadas por feixes. A rápida identificação de diferentes elementos químicos numa amostra é realizada com recursos ao software de Identificação de Elemento (EID) e um Espectrometro de Energia Dispersiva (EDS) totalmente integrado.
