Phenom ProX Desktop SEM
SEM de bancada de elevado desempenho com intervalo de ampliação até 150.000x e tensão de aceleração entre 5kV e 15kV e opção de 20kV. Detetor EDS completamente integrado e detetor SED opcional. Permite análise de amostras condutoras e não condutoras sem necessidade de preparação através da sua funcionalidade de alto e baixo vácuo.
O Microscópio Eletrónico de Varrimento (SEM) Phenom ProX é baseado nos SEM de bancada de 5ª geração, com a melhoria da sua performance ao nível da criação de imagens e análise elementar. Com o SEM de bancada Phenom ProX, as estruturas da amostra podem ser examinadas do ponto de vista morfologico, para além da sua composição elementar. Além da análise pontual, o software Elemental Mapping e Line Scan permite uma análise mais aprofundada da distribuição dos elementos.
Os microscópios Phenom SEM são muito intuitivos, rápidos a fornecer resultados e desenvolvidos com os mais elevados padrões de qualidade. Tendo em conta estes princípios fundamentais foi desenvolvido o sistema de espectroscopia Phenom ProX com soluções de ponta ao nível de imagiologia e análise.
Comparado ao seu antecessor, o Phenom ProX SEM da Geração 5 tem no mínimo mais 20% de melhor resolução e a experiência de utilizador é ainda melhor de forma a analisar uma maior variadade de amostras, incluindo amostras muito sensíveis que podem ser danificadas pelo feixe de eletrões. A rápida identificação de diferentes elementos químicos numa amostra é realizada com recursos ao software de Identificação de Elemento (EID) e um Espectrómetro de Energia Dispersiva (EDS) totalmente integrado.
