Phenom Pro G6 Desktop SEM

O SEM de bancada para uma análise SEM robusta e sem esforço, permite aumentar desta forma a sua capacidade de investigação.
A sexta geração do Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM preenche o vazio que existe entre a microscopia ligeira e a análise SEM de bancada, aumentando assim as capacidades dos centros de investigação.

Rápido e fácil de utilizar, o Phenom Pro G6 Desktop SEM pode ser aplicado para reduzir o trabalho de análises de rotina de amostras comuns de SEM de bancada. A configuração do equipamento e o respetivo sistema de carregamento de amostras asseguram uma imagem rápida com o mínimo de tempo necessário para a calibração entre ensaios.
Acessível a todos os níveis de conhecimento, facilmente se reproduz resultados de elevada qualidade com o Phenom Pro G6. A sua fonte CeB6 de longa duração oferece uma elevada luminosidade, ao mesmo tempo que requer pouca manutenção. Além disso, a sua grande estabilidade e o seu formato compacto permitem que o equipamento seja utilizado em praticamente qualquer ambiente de laboratório; mais simplesmente ainda, não requer infra-estrutura especializada ou supervisão especializada.
Características principais
Fácil utilização: A câmara de navegação a cores do Phenom Pro Desktop SEM disponibiliza informação que facilita a ligação entre imagens óticas e eletrónicas. Os utilizadores rapidamente estão aptos a captar imagens somente com uma formação inicial de 10 minutos. Está disponível uma vasta diversidade de suportes de amostras para satisfazer uma grande variedade de aplicações.
O carregamento de amostras é rápido e fácil, devido à tecnologia patenteada de carregamento a vácuo.
Software Phenom ProSuite: Thermo Scientific Phenom ProSuite Software é uma plataforma de aplicação de software opcional que foi desenvolvida para melhorar ainda mais as capacidades do Phenom Desktop SEM. O Phenom ProSuite Software permite extrair o máximo de informação das imagens obtidas no Phenom Pro Desktop SEM.
Detetor de eletrões secundário: Um detetor de eletrões secundário (SED) está opcionalmente disponível no Phenom Pro Desktop SEM. O SED recolhe eletrões de baixa energia a partir da camada superior da superfície da amostra. É, portanto, a escolha ideal para revelar informações detalhadas da superfície da amostra.
Aplicações
Controlo do Processo: A indústria de hoje exige uma elevada produtividade com qualidade superior, um equilíbrio que é mantido através de um controlo eficaz do processo. O SEM com software de automação dedicado fornecem informação rápida e multi-escala para controlo e melhoria de processos.
Controlo do Qualidade: O controlo e a garantia de qualidade são essenciais na indústria atual. A gama de ferramentas EM e espectroscopia para análise multiescala e multi-modal de defeitos, permite tomar decisões fiáveis e informadas para controlo e melhoria de processos.
Estudo de Materiais: Os materiais novos são analisados em escalas cada vez menores para existir um maior controlo das suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrónica proporciona aos investigadores uma visão fundamental de uma grande variedade de características dos materiais à escala micro a nanométrica.

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Six Ways the Phenom Pro/ProX G6 Desktop SEM Can Accelerate Breakthrough Research
As academic labs around the globe strive to accelerate their breakthrough discoveries, they need the ability to quickly and accurately identify the microstructures of an ever-larger number of samples. They also need a versatile scanning electron microscope (SEM) that goes beyond the limits of optical microscopes that requires little training or expert oversite and allows these labs to reserve their high-end, floor-model SEM for more complicated analyses.
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Processes for automation: Quality control of phosphate coatings
An insight into the development of an automation tool using the Phenom Programming Interface
Phosphate coatings are applied to metallic objects to prevent corrosion or to improve lubricity. The performance of phosphate coatings strongly depends on the morphology of the coating crystals and on the degree of coverage. The coverage can be measured using a scanning electron microscope (SEM) equipped with a back scatterered electrons (BSE) detector, where the phosphate crystals and the uncoated surface appear in different shades of gray. As the quality control process may require the analysis of hundreds of images over large areas of the coated objects, an automation script significantly increases the efficiency and accuracy of this analysis.