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QSN 750-II

O QSN 750-II pode ser usado em ambientes de produção automatizados. Nesses casos, o espectrómetro é combinado com um dispositivo de preparação

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VeOS

O VeOS da OBLF é o primeiro espectrómetro de emissão ótica a apresentar um sistema detetor baseado em semicondutores cujo desempenho analítico

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O espectrómetro de emissão de faísca OBLF MVS 1000 permite uma análise versátil, flexível e rápida de todos os materiais metálicos comuns.

MVS 1000

O MVS 1000 da OBLF é um espectrómetro de emissão ótica compacto, que possui um sistema de detetores baseado em semicondutores cujo

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Espectrometro de chispa

GS 1000-II

Como em todos os espectrómetros OBLF, a faísca é gerada com a ajuda de uma fonte digital de loop fechado (GDS), que permite

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Supreme8000_ananlisador_xrf_flurescencia_raios_x_hitachi

X-Supreme8000

O X-Supreme8000 é utilizado em ambientes agressivos, por isso contém vários recursos de forma a garantir o seu funcionamento de forma confiável.

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Lab-x5000

LAB-X5000

A análise de XRF com o LAB-X5000 é repetível e reproduzível para qualquer operador em laboratórios, ambientes de produção e operações móveis.

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