ZSX Primus IV
O ZSX Primus IV, da Rigaku, é um espectrómetro sequencial de fluorescência de raios-X por dispersão em comprimento de onda (WDXRF), com o tubo de raios-X posicionado acima da amostra. Permite a determinação quantitativa rápida de diversos elementos químicos, do berílio (Be) ao urânio (U), em sólidos, líquidos, pós, ligas e filmes finos, com um número reduzido de padrões.
Configuração ótica e desempenho em elementos leves
A configuração com o sistema ótico acima da amostra minimiza os problemas de contaminação e reduz as necessidades de limpeza da câmara de amostras, contribuindo para uma maior disponibilidade do equipamento.
O tubo de raios-X com janela terminal de 30 µm proporciona baixos limites de deteção para elementos leves, de baixo número atómico. A vedação com hélio mantém o sistema ótico sob vácuo.
A configuração compacta reduz a área ocupada no laboratório.
Configuração guiada e medições de rotina
O software ZSX Guidance incorpora conhecimento especializado para apoiar a configuração das medições de XRF e a análise de dados. Os operadores introduzem as informações básicas sobre as amostras, os componentes a analisar e a composição dos padrões.
Com o auxílio de espectros qualitativos, o software seleciona automaticamente as linhas analíticas com menor sobreposição e define as ondições ótimas de medição do fundo espectral e os parâmetros de correção, incluindo os relativos às sobreposições de linhas.
Para as medições de rotina, o equipamento dispõe da interface EZ Analysis. Integra também um analisador digital multicanal (D-MCA).
Mapeamento, análise multiponto e microanálise
O mapeamento da distribuição elementar permite avaliar a homogeneidade das amostras e detetar inclusões. A análise multiponto ajuda a reduzir os erros de amostragem em materiais não homogéneos, complementando a investigação detalhada da sua composição.
A função de microanálise permite analisar amostras com dimensões de apenas 500 µm.
Análise de amostras desconhecidas com EZ-scan e SQX
O EZ-scan permite realizar análises elementares por XRF de amostras desconhecidas sem configuração prévia, bastando introduzir o nome da amostra e efetuar alguns cliques.
Em conjunto com o software SQX, baseado no método dos parâmetros fundamentais, permite obter resultados de forma rápida, com correções automáticas dos efeitos de matriz e das sobreposições de linhas.
O SQX permite também corrigir o efeito de excitação secundária por fotoeletrões, relevante para elementos leves e ultraleves, tal como aplicar correções para diferentes atmosferas de análise, impurezas e dimensões de amostra. Os programas matching library e perfect scan contribuem para aumentar a exatidão da análise.
Atmosfera de análise com azoto ou hélio
O ZSX Primus IV permite utilizar azoto em alternativa ao hélio como gás da atmosfera de análise.
Em atmosfera de azoto, a análise SQX abrange os elementos do fósforo (P, número atómico 15) ao cúrio (Cm, número atómico 96). Nestas condições, o método SQX scattering FP não é aplicável.
