ZSX Primus IV
O espectrómetro sequencial de fluorescência de Raios-X por comprimento de onda dispersivo de elevada performance, modelo ZSX Primus IV fornece rápida determinação quantitativa de elementos desde do berílio (Be) até ao urânio (U), numa ampla variedade de tipos de amostras.
Este equipamento apresenta uma configuração única no mercado com irradiação superior da amostra, eliminando a contaminação do sistema ótico (tubo de raios-X e restantes componentes), pelas amostras eliminando também o tempo gasto devido à manutenção da câmara de amostra para limpeza dos resíduos de amostras (pós ou líquidos).
O ZSX Primus IV da Rigaku fornece rapidamente a determinação quantitativa de elementos do berílio (Be) ao urânio (U), numa ampla variedade de tipos de amostras, com um número mínimo de padrões.
Esta apresenta-se como a melhor configuração para análise de pós soltos, pós prensados e líquidos porque evita a contaminação do tubo de raios-X no caso de partículas de pó se soltarem do pellet, ou do filme, numa análise de pós soltos ou líquidos se romper.
Como é obvio, a manutenção deste equipamento tem um preço bastante mais baixo!!
Fornecendo performances superiores, com flexibilidade nas análises das amostras complexas, o ZSX Primus IV é dotado de um tubo de raios-X com janela de Berílio de 30 µm, (a janela mais fina disponível no mercado), por forma a atingir limites de deteção excecionais de elementos leves (duas vezes mais sensibilidade nestes elementos). O tubo de raios-X SuperTrace 30, tem o menor desvio de longo termo do mercado aliado ao menor desgaste promovendo o maior tempo de vida!
Novo software ZSX Guidance
O ZSX Guidance oferece apoio em todos os aspetos da medição de XRF e análise de dados. Os utilizadores simplesmente inserem informações básicas sobre amostras, componentes de análise e composição padrão. Linhas medidas com menos sobreposição, e parâmetros de correção (incluindo sobreposições de linhas) são automaticamente definidos com o auxílio de espectros qualitativos.
Desempenho XRF em elementos leves excecional com ótica invertida para fiabilidade superior
O ZSX Primus IV apresenta uma inovadora configuração do sistema ótico invertida. A geometria ótica invertida elimina as preocupações com a limpeza e aumenta o tempo de atividade. Desta forma o espectrómetro dispõe de desempenho superior com flexibilidade para analisar as amostras mais complexas. O espectrómetro ZSX Primus IV possui um tubo com janela de berílio com espessura de 30 mícron, a janela mais fina disponível no mercado, para limites de deteçãoexcecionais para elementos leves
Mapeamento e análise XRF multiponto
Combinado com o pacote de mapeamento mais avançado para detetar homogeneidade e inclusões, o ZSX Primus IV permite uma investigação espectrométrica XRF fácil e detalhada de amostras que apresentam informações analíticas que não são facilmente obtidas por outras metodologias analíticas. A análise multiponto ajuda a eliminar erros de amostragem em materiais não homogéneos.
Parâmetros fundamentais do SQX com o software EZ-scan
O EZ-scan permite que os utilizadores realizem análises elementares XRF de amostras desconhecidas sem nenhuma configuração prévia, este recurso permite economia de tempo. Combinado com o software de parâmetros fundamentais SQX, fornece os resultados XRF mais precisos e rápidos possíveis. O SQX é capaz de corrigir automaticamente todos os efeitos da matriz, incluindo sobreposições de linha. O SQX também pode corrigir o efeito de excitação secundária por fotelétron (elementos leves e ultraleves), atmosferas variadas, impurezas e diferentes tamanhos de amostra.
Características:
- Análise de elementos de Be a U
- Software de alta prestação ZSX Guidance
- Analisador digital de múltiplos canais (D-MCA)
- Interface EZ Analysis para medições de rotina
- O tubo acima da óptica minimiza os problemas de contaminação e manutenções dispendiosas.
- Microanálise para analisar amostras com spotsize de 500 μm.
- O tubo de raios-X com janela de berílio de 30μm de espessura, permite um desempenho superior para análise de elementos leves
- Recurso de mapeamento para topografia / distribuição elementar
