VeOS

O espectrómetro de emissão de ótica VeOS da OBLF permite análises versáteis, flexíveis e rápidas de todos os materiais metálicos comuns. Este equipamento apresenta uma tecnologia de detetor com tecnologia de ponta com base em detetores de semicondutores que foram desenvolvidos, especialmente, para espectroscopia de emissão ótica.

O espectro analítico permite também a análise precisa de elementos que emitem nos baixos comprimento de onda , como o azoto ou baixo carbono.

O VeOS da OBLF é o primeiro espectrómetro de emissão ótica a apresentar um sistema detetor baseado em semicondutores cujo desempenho analítico – incluindo a resolução espectral necessária para um espectrómetro de laboratório – é tão bom quanto os sistemas baseados em fotomultiplicadores, estabelecidos como sendo os melhores detetores para OES.

Esta nova tecnologia foi desenvolvida, especificamente, para espectroscopia de emissão de emissão ótica e garante excelentes resultados em toda a gama de comprimentos de ondas no intervaldo de 130 a 800 mm.

O design dos detetores sensíveis à luz, caracterizados por uma superfície 100 vezes mais sensível à luz do que os existentes em sistemas convencionais, foi especialmente adaptado para contemplar os requisitos da espectroscopia de emissão ótica. Como resultado, este é o primeiro espectrõmetro a oferecer a melhor combinação possível de sensibilidade espectral e resolução espectral, além de um design inovador que garante a qualidade reconhecida da marca OBLF para além da maior flexibilidade de utilização.

Além disso, o modelo VeOS apresenta-se num novo formato, fácil de usar.
O espectrómetro é altamente adequado para utilização em ambientes de produção, entrada de mercadorias e controlo de materiais, bem como em laboratórios de teste com diversas tarefas analíticas.

Extensões dos recursos analíticos e calibrações são facilmente adicionadas sem a necessidade de realizar grandes alterações no sistema.

Para garantir que as condições externas do local da instalação não influenciem o sistema, os detetores e o sistema de leitura especialmente desenvolvido foram instalados no sistema ótico a vácuo com temperatura estabilizada.

Como em todos os espectrómetros OBLF, o VeOS utiliza excitação digital de loop fechado GDS III, livre de manutenção, que, em conjunto com curtos tempos de análise, permite que as chispas sejam otimizadas para a exigencia de cada aplicação.

Graças ao sistema de limpeza de pulsos automático patenteado da OBLF, o suporte de faísca otimizado requer uma manutenção pouco frequente.