Análise de partículas por Microscopia Eletrónica de Varrimento
O microscópio eletrónico de varrimento de bancada Phenom ParticleX AM possui uma câmara com um porta amostras motorizado, preciso e rápido que permite a análise de amostras de até 100 mm x 100 mm, com um periodo de carregamento de amostras de 60 segundos ou menos, proporcionando, em última análise, um rendimento mais rápido do que outros sistemas de MEV.
Testes de fabricação aditiva
O microscópio eletrónico de varrimento de bancada Phenom ParticleX AM mede vários parâmetros de tamanho e forma, como diâmetro mínimo e máximo, perímetro, relação de aspeto, rugosidade e diâmetro da fereta. Todos eles podem ser exibidos com valores de 10%, 50% ou 90% (ou seja, d10, d50, d90).
Mapeamento elementar SEM
A funcionalidade de mapeamento elementar e de varrimento de linhas permite-lhe começar a trabalhar com um simples clique. A funcionalidade de varrimento de linha mostra a distribuição de elementos quantificados num gráfico de linhas. Isto é especialmente útil para analisar arestas, revestimentos e secções transversais de revestimentos, tintas e outras amostras com várias camadas.
Detetor de electrões secundários
Um detetor de eletrões secundários (SED) opcional pode ser adicionado ao Phenom ParticleX AM Desktop SEM. O SED recolhe eletrões de baixa energia da camada superficial superior da amostra, tornando-o ideal para revelar informações detalhadas sobre a superfície da amostra. O SED pode ser de grande utilidade para estudar microestruturas, fibras e partículas ou outras aplicações em que a topografia e a morfologia são importantes.
