Limpeza técnica
Com a crescente procura por análise de partículas menores além do âmbito da microscopia ótica nas indústrias (automotiva), o microscópio eletrónico de varrimento de bancada Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) permite a microscopia eletrónica de varredura automatizada com espectroscopia de fluorescência de raios-X por dispersão de energia (EDS). Esta é uma grande vantagem em relação à microscopia ótica, pois permite a classificação química das partículas, fornecendo ótimos insights sobre os seus processos e/ou ambientes de produção. Estão disponíveis relatórios padrão em conformidade com a VDA 19 / ISO 16232 ou ISO 4406 e ISO 4407.
Detetor de electrões secundários
Um detetor de eletrões secundários (SED) opcional pode ser adicionado ao Phenom ParticleX TC. O SED recolhe eletrões de baixa energia da camada superficial superior da amostra, tornando-o ideal para revelar informações detalhadas sobre a superfície da amostra. O SED pode ser de grande utilidade para estudar microestruturas, fibras e partículas ou outras aplicações em que a topografia e a morfologia são importantes.
Utilização geral do SEM
A interface do utilizador baseia-se na tecnologia comprovada de fácil utilização aplicada nos bem sucedidos produtos SEM de bancada Phenom. A interface permite que tanto os utilizadores existentes como os novos se familiarizem rapidamente com o sistema com um mínimo de formação.
Mapeamento elementar e varrimento de linhas
Basta clicar e começar a trabalhar com o mapeamento elementar e a funcionalidade de varrimento em linha do Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness). A funcionalidade de varriemnto em linha mostra a distribuição de elementos quantificados num gráfico linear.
