XtaLAB Synergy-ED

O XtaLAB Synergy-ED é o resultado de uma inovadora cooperação que combina de forma sinérgica as tecnologias centrais da Rigaku: elevada rapidez, detetor de fotões de alta sensibilidade (HyPix-ED), software vanguardista de controlo e análise de monocristais (CrysAlisPro para ED) e a vasta experiência e liderança de mercado da JEOL na conceção e produção de microscópios eletrónicos de transmissão. A caraterística chave deste equipamento é proporcionar aos investigadores uma plataforma integrada que permite um fácil acesso à cristalografia eletrónica.

O XtaLAB Synergy-ED foi concebido para responder à crescente necessidade de investigar amostras cada vez mais pequenas na área da investigação estrutural. Com a cristalografia de raios-X, a dimensão cristalina mais pequena possível é de 1 mícron, e apenas quando se utilizam as fontes de raios-X mais brilhantes e detetores sem ruído. Contudo, nos últimos anos, tem havido uma necessidade crescente de análise estrutural de substâncias que apenas formam microcristais, cristais que têm apenas algumas centenas de nanómetros ou de menor dimensão. Assim, foi desenvolvido um novo método analítico, difração de eletrões ou MicroED, que utiliza a difração de eletrões num microscópio eletrónico TEM para analisar estruturas moleculares 3D de materiais nanocristalinos.

O XtaLAB Synergy-ED é um difratómetro de eletrões dedicado e é operado através do software de controlo de difratómetros de raios-X da Rigaku e inclui uma instalação integrada completa desde a recolha de amostras e medição da difração até ao tratamento de dados e solução de estrutura.

Vantagens

• Difratómetro eletrónico totalmente integrado, que cria um fluxo de trabalho contínuo desde a recolha de dados até à determinação da composição tridimensinal de estruturas moleculares.
• Melhoria na investigação de amostras nanocristalinas devido à capacidade de difração de eletrões para determinar cristais com apenas algumas centenas de nanómetros ou de menor dimensão.
• Equipamento dedicado a difração de eletrões, sem modo microscópio, porque a mudança da configuração de microscópio entre imagem e difração pode ser demorada, tornando assim difícil a partilha do equipamento.
• Qualquer cristalógrafo de raios-X achará intuitivo operar este equipamento sem ter de se tornar um especialista em microscopia.

Este equipamento pode ser facilmente integrado numa instalação de cristalografia de raios-X existente, na qual os investigadores e estudantes poderão facilmente dominar a técnica MicroED, uma vez que o fluxo de trabalho do software é o mesmo de um difratómetro de raios-X. A sua integração numa instalação de raios-X permite a determinação imediata da estrutura de materiais que apenas formam nanocristais.