Xnano II

O sistema modular de equipamentos Insplorion XNano proporciona a possibilidade de estudar processos que ocorrem em nanomateriais e películas finas in situ e em tempo real em condições de temperatura e pressão significativas.

O Insplorion XNano apresenta uma versátil célula de medição, permitindo medições de mudança de índice de refração em tempo real tanto em medições de fluxo de gás como de líquido.

O XNano disponibiliza ao utilizador um sistema multifuncional, que torna todas as vantagens da tecnologia Insplorion NPS facilmente acessíveis.

Características:

  1. Medição ultra-sensível da alteração do índice de refração na superfície do sensor;
  2. Medições em ambiente líquido ou gasoso;
  3. Intervalo de temperaturas ambiente a 80ºC utilizando controlo integrado da temperatura;
  4. Escolha flexível da estrutura e propriedades do material de amostra;
  5. Escolha flexível do material de substrato e composição química de superfície;
  6. Permite a monitorização dos processos nas nanopartículas e películas finas in situ e em tempo real;
  7. Equipamento e software de fácil utilização.

Este equipamento inclui todo o hardware, software, suporte e formação inicial necessária para começar a utilizar o mesmo rapidamente.
Muitos processos e sistemas diferentes podem ser estudados com o Sistema XNano.

Clique aqui para obter mais informações sobre o Xnano II.