alpha300 RA – Raman-AFM

A combinação de imagens com informação espectral e estrutural em escala nanométrica num único sistema

A bem conhecida combinação Raman-AFM alpha300 RA foi o primeiro sistema Raman AFM totalmente integrado no mercado e continua a definir o padrão para configurações combinadas de instrumentos para microscopia correlativa Raman-AFM. O alpha300 RA incorpora os recursos do sistema de microscopia Raman alpha300 R para imagens químicas poderosas em conjunto com a Microscopia de Força Atómica (alpha300 A) para caracterização de alta resolução de superfícies em nanoescala . As imagens Raman AFM correlativas facilitam a compreensão mais abrangente das amostras.

Com o alpha300 RA, as duas técnicas complementares de imagem estão disponíveis num único microscópio sem comprometer qualquer uma das técnicas e são controladas por um único pacote de software para a maior facilidade de operação e fiabilidade. A troca entre as técnicas de imagem requer apenas uma volta no revólver de objectivas, com todos os parâmetros de imagem ajustados automaticamente e a mesma área de amostra facilmente visualizada com as duas técnicas. O software também permite a correlação sem esforço dos resultados Raman e AFM e a sobreposição da imagem.

Além disso, o alpha300 RA é ideal para medições TERS (Raman de alta resolução) de AFM.

Características principais

  • Todos os recursos dos microscópios alpha300 R (Raman) e alpha300 A (AFM) fornecidos num microscópio que correlaciona as duas técnicas
  • Excelente combinação de caracterização abrangente de superfície na escala nanométrica (AFM) com imagens químicas (Raman)
  • Ideal para medições simultâneas de Raman-AFM
  • Estritamente correlativo: a movimentação da amostra entre as análises Rama e AFM, não é necessária
  • Troca conveniente entre as técnicas de medição pela rotação do revólver de objetivas

Modos de operação geral do AFM

  • Modo de contacto
  • Modo CA (modo intermitente, imagem de contraste de fase)
  • Modo de força pulsada digital (DPFM)
  • Lift Mode ™
  • Microscopia de força magnética (MFM)
  • Microscopia de Força Eletrostática (EFM)
  • Curvas de distância – força
  • Nano-Manipulação / Litografia
  • Microscopia de força lateral (LFM)
  • Kelvin Probe Microscopy (KFM)
  • Microscopia de força química (CFM)
  • Modo de detecção de corrente
  • Outros modos em opção

As vantagens da análise TERS com os microscópios WITec
Os sistemas de microscopia alpha300 RA da WITec, com técnicas Raman e AFM combinadas num único microscópio, fornecem instrumentação otimizada para análises TERS com iluminação flexível da amostra de cima, de baixo ou lateral.

Modos de Operação Geral Raman

  • Imagem Raman hiperespectral: aquisição de um espectro Raman completo em cada pixel da imagem
  • Varrimentos planares (direção x-y) e em profundidade (direção z) com posicionamento manual da amostra
  • Datasets de imagens: imagem Raman confocal 3D
  • Séries temporais com espectroscopia resolvida no tempo
  • Aquisição de espectro Raman de ponto único
  • Perfil de profundidade de ponto único
  • Espectrómetro UHTS acoplado a fibra fotónica de alta eficiência concebida especificamente para microscopia Raman e aplicações com baixas intensidades de luz
  • Microscopia Confocal de Fluorescência
  • Microscopia de Campo Claro
  • Recursos básicos do microscópio
  • Microscópio óptico de elevada performance com 6 objetivas
  • Sistema de vídeo: câmara de vídeo CCD
  • Fonte de luz branca LED para iluminação Köhler
  • Posicionamento manual da amostra nas direções x e y
  • Acoplamento de fibra fotónica de alta eficiência

Modos de operação opcionais e upgrades

  • Lasers adicionais, vários comprimentos de onda em opção
  • Espectrómetros UHTS  (Ultra Hight Trough Spectrometer) adicionais com várias gamas de comprimentos de onda (UV, VIS, NIR)
  • Sistemas de osicionamento de amostras e analise totalmente automatizados e motorizados com platinas de varrimento piezo-acionados
  • Imagem confocal Raman automatizada
  • Medições automatizadas com várias áreas e multipontos
  • Automação completa
  • Imagem Raman ultra-rápida, 1300 espectros/segundo
  • Upgrades para aplicações de epi-fluorescência
  • Adaptador para amostras mais altas
  • TrueSurface para perfil de profundidade Raman sem perder o foco.
  • Auto-foco
  • Microscopia de campo escuro, microscopia de contraste de fase e DIC opcional

Espectrómetros UHTS de alta velocidade

  • Disponíveis vários espectrómetros otimizados para excitação baseados em lentes (UV, VIS ou NIR), todos concebidos especificamente para microscopia Raman e aplicações com baixa intensidade de luz
  • Instrumentos ópticos de ultra alta produtividade acoplados a fibras fotónica de alta eficiência