O X1 mede as alterações estruturais e/ou dielétricas de praticamente qualquer nanomaterial ou película fina, dielétrica bem como metálica, induzidas, por exemplo, pela composição do gás ou por rampas de temperatura.
O equipamento Insplorion X1 inclui tudo o que é necessário para iniciar rapidamente a sua utilização e produzir dados de alta qualidade. O equipamento tem duas posições de amostra, o que permite a realização de duas medições paralelas. Este equipamento inclui todo o hardware, software, suporte e formação inicial para o utilizar com confiança e se sentir confortável com a interpretação dos resultados obtidos.
O Insplorion X1 utiliza leitura ótica à distância, pelo que apenas o chip sensor e não o equipamento ótico sensível, necessita de ser colocado dentro da câmara de reação. O X1 pode portanto funcionar a altas temperaturas (até 600°C) e ainda manter uma alta resolução e flexibilidade.
