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A Oxford Instruments disponibiliza dois analisadores XRF (Fluorescência de raio-X) especialmente desenvolvidos para a análise de espessura e composição de revestimentos contendo elementos entre o Enxofre e o Urânio. Podem medir até 5 camadas e 15 elementos de acordo com a ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 e IEC62321.

Oxford Instruments X-Strata980
Oxford Instruments CMI-900